メッセージを送る
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
High Resolution Digital Scanning Optical Microscope Huge Sample Stage

光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル

  • ハイライト

    高リゾリューションのスキャンの光学顕微鏡

    ,

    光学顕微鏡をスキャンする巨大なサンプル段階

  • 決断
    3nm@30KV (SE);6nm@30KV (BSE)
  • 拡大
    否定的な拡大:8x~300000x;スクリーンの拡大:12x~600000x
  • 電子銃
    タングステンの熱くする陰極前によって集中させるタングステンのフィラメントのカートリッジ
  • 加速の電圧
    0~30KV
  • 客観的な開き
    真空システムの外で調節可能なモリブデンの開き
  • 標本の段階
    5本の斧の段階
  • 起源の場所
    中国
  • ブランド名
    OPTO-EDU
  • 証明
    CE, Rohs
  • モデル番号
    A63.7069
  • 最小注文数量
    1 pc
  • 価格
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • パッケージの詳細
    輸出交通機関のためのカートンのパッキング、
  • 受渡し時間
    5 〜 20 日
  • 支払条件
    T / T、ウエストユニオン、Paypal
  • 供給の能力
    5000 PC 月

光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル

 
  • 探知器SED+BSED+CCDの5本の斧との8x~300000xは上演する(自動X/YのマニュアルZ/R/T)
  • アップグレード可能なLaB6、X線の探知器、EBSD、CL、WDS、コータおよび等。
  • 多修正EBL、STM、AFTM、Heatignの段階、Cryoの段階、抗張段階、SEM+Laserおよび等。
  • 自動口径測定、自動不良な検出は、安価のための維持したり及び修理する
  • 完全にコンピュータWindowsシステムのマウスが(含まれている)制御する容易で及び友好的な操作インターフェイス、
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 0
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 1
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 2
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 3
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 4
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 5
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 6
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 7
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 8
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 9
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 10
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 11
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 12     
A63.7069ソフトウェア主関数
高圧規則 垂直線スキャン 潜在的な転位の規則
フィラメントの現在の規制 コンデンサーの調節 多スケールの測定
非点収差の調節 中央調節に電気 自動明るさ/対照
明るさの調節 対物レンズの調節 自動焦点
対照調節 写真の下検分 自動乱視の除去
倍率調整 活動的な定規 自動フィラメントの調節
選択されたエリアの走査方式 4スキャン ニング スピードの設定 変数の管理
ポイント走査方式 対物レンズの逆転 イメージのスナップショット、イメージの凍結
表面のスキャン コンデンサーの逆転 1つの主速い眺め
水平線スキャン 電気回転調節  
 

光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 13
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 14     
SEM A63.7069 A63.7080 A63.7081
決断 3nm@30KV (SE)
6nm@30KV (BSE)
1.5nm@30KV (SE)
3nm@30KV (BSE)
1.0nm@30KV (SE)
3.0nm@1KV (SE)
2.5nm@30KV (BSE)
拡大 8x~300000x否定真理の拡大 8x~800000x否定真理の拡大 6x~1000000x否定真理の拡大
電子銃 前集中させたタングステンのフィラメントのカートリッジ ショットキー分野放出銃 ショットキー分野放出銃
電圧 加速の電圧0~30KVの連続的な調節可能は、ステップ100V@0-10Kv、1KV@10-30KVを調節する
速い眺め 1つの主速い眺めのイメージ機能 N/A N/A
レンズ系 3レベルの電磁石の先を細くされたレンズ 複数のレベルの電磁石の先を細くされたレンズ
開き 3つのモリブデンの客観的な開き、真空システムの調節可能な外側は、必要性開きを変えるために目的を分解しない
真空システム ターボ1つの分子ポンプ
1つの機械ポンプ
サンプル部屋Vacuum>2.6E-3Pa
電子銃部屋Vacuum>2.6E-3Pa
十分に自動真空制御
真空の連結機能

任意モデル:A63.7069-LV
ターボ1つの分子ポンプ
2つの機械ポンプ
サンプル部屋Vacuum>2.6E-3Pa
電子銃部屋Vacuum>2.6E-3Pa
十分に自動真空制御
真空の連結機能
BSE (LV)のための90秒の速いスイッチのための低い真空の範囲10~270Pa
1組のイオン ポンプ セット
ターボ1つの分子ポンプ
1つの機械ポンプ
サンプル部屋Vacuum>6E-4Pa
電子銃部屋Vacuum>2E-7 Pa
十分に自動真空制御
真空の連結機能
1スパッタ イオン ポンプを
1つのゲッター イオン混合物ポンプ
ターボ1つの分子ポンプ
1つの機械ポンプ
サンプル部屋Vacuum>6E-4Pa
電子銃部屋Vacuum>2E-7 Pa
十分に自動真空制御
真空の連結機能
探知器 SE:高真空の二次電子の探知器(探知器の保護と) SE:高真空の二次電子の探知器(探知器の保護と) SE:高真空の二次電子の探知器(探知器の保護と)
BSE半導体4の細分化
背部分散の探知器

任意モデル:A63.7069-LV
BSE (LV)半導体4の細分化
背部分散の探知器
任意 任意
CCD:赤外線CCDのカメラ CCD:赤外線CCDのカメラ CCD:赤外線CCDのカメラ
左舷を伸ばしなさい 2サンプル部屋の港をのための伸ばしなさい
EDS、BSD、WDS等。
4サンプル部屋の港をのための伸ばしなさい
BSE、EDS、BSD、WDS等。
4サンプル部屋の港をのための伸ばしなさい
BSE、EDS、BSD、WDS等。
標本の段階 5本の斧の段階、4自動+1手動制御
旅行範囲:
X=70mm、Y=50mm、Z=45mm、
R=360°、T=-5°~+90° (マニュアル)
接触警報及び停止機能
5本の斧の自動中間の段階
旅行範囲:
X=80mm、Y=50mm、Z=30mm、
R=360°、T=-5°~+70°
接触警報及び停止機能

任意モデル:
A63.7080-M 5は手動段階を打ち切る
A63.7080-L 5は自動大きい段階を打ち切る
5本の斧の自動大きい段階
旅行範囲:
X=150mm、Y=150mm、Z=60mm、
R=360°、T=-5°~+70°
接触警報及び停止機能
最高の標本 Dia.175mmの高さ35mm Dia.175mmの高さ20mm Dia.340mmの高さ50mm
イメージ システム 実質の酒造機のイメージの最高の決断4096x4096ピクセル、
イメージ ファイルのフォーマット:BMP (デフォルト)、GIFのJPG、PNG、TIF
実質の酒造機のイメージの最高の決断16384x16384ピクセル、
イメージ ファイルのフォーマット:TIF (デフォルト)、BMP、GIFのJPG、PNG
ビデオ:デジタル自動記録的な.AVIビデオ
実質の酒造機のイメージの最高の決断16384x16384ピクセル、
イメージ ファイルのフォーマット:TIF (デフォルト)、BMP、GIFのJPG、PNG
ビデオ:デジタル自動記録的な.AVIビデオ
コンピュータ及びソフトウェア 全SEMの顕微鏡操作を、コンピュータ指定より少なくより内側I5 3.2GHz完全な制御の専門のイメージ分析 ソフトウェアが付いているPCのワーク・ステーションの勝利10システム、4G記憶、24" IPS LCDのモニター、500Gハード ディスク、マウス、キーボード
写真の表示 イメージのレベルは豊富、細心であり、実時間拡大を、定規、電圧、灰色のカーブ示す
次元
及び重量
顕微鏡ボディ800x800x1850mm
ワーク テーブル1340x850x740mm
総重量400Kg
顕微鏡ボディ800x800x1480mm
ワーク テーブル1340x850x740mm
総重量450Kg
顕微鏡ボディ1000x1000x1730mm
ワーク テーブル1330x850x740mm
総重量550Kg
任意付属品
任意付属品 A50.7002 EDSエネルギー分散X線スペクトロメータ
A50.7011イオン放出させるコーター
電子探知器を分散させるA50.7001 BSEの背部
A50.7002 EDSエネルギー分散X線スペクトロメータ
A50.7011イオン放出させるコーター
A50.7030はコントロール パネルにモーターを備える
電子探知器を分散させるA50.7001 BSEの背部
A50.7002 EDSエネルギー分散X線スペクトロメータ
A50.7011イオン放出させるコーター
A50.7030はコントロール パネルにモーターを備える
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 15
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 16
A50.7001 BSEの探知器 半導体4の区分の背部分散の探知器;
原料A+Bの形態情報A-Bで利用できる;
利用できるサンプルは放出させる金なしで観察する;
利用できるグレースケールの地図からの不純物そして配分を直接観察しなさい。
A50.7002 EDS (X光線の探知器) 軽い要素の分析のための低負荷のX線伝達を最大限に活用する窒化珪素(Si3N4)の窓;
優秀な決断および高度の低雑音の電子工学顕著な効率の性能を提供するため;
小さい足跡は理想的な幾何学およびAataのコレクションの状態を保障する柔軟性を提供する;
探知器は30mm2破片を含んでいる。
A50.7003 EBSD (電子ビームのBackscattered回折) ユーザーは材料の分析の水晶オリエンテーション、水晶段階およびマイクロ質および関連材料の性能、等できた。
EBSDのカメラの設定の自動最適化
データ収集の間に、最高情報を得るために相互実時間分析をしなさい
すべてのデータはいつでも見ることができる時間の札と決め付けられた、
高リゾリューション1392 x 1040 x12
スキャンおよび索引の速度:2~5nAの状態の下の標準としてNIとの198ポイント/秒、それは索引率≥99%を保障できる;
よの仕事100pAの5kVの低いビーム現在および低電圧の状態の下で
オリエンテーションの測定の正確さ:よくより0.1度
triplex索引システムを使用して:必要性無し単一バンド定義、悪いパターン質の容易なインデクシングに頼るため
熱心なデータベース:電子回折によって得られるEBSDの特別なデータベース:>400段階の構造
能力を指示しなさい:それは自動的に7つの水晶システムのすべての水晶材料を指示できる。
高度の選択は伸縮性がある剛さ(伸縮性がある剛さ)、テイラー(テイラー)の要因、シュミツト(Schmid)の要因を等計算することを含んでいる。
A50.7010 コータ ガラス保護の貝:∮250mm;高い340mm;
ガラス処理の部屋:
∮88mm;140mmの最高、∮88mm;高い57mm;
標本の段階のサイズ:∮40mm (最高);
真空システム:moleculaポンプおよび機械ポンプ;
真空の検出:Piraniのゲージ;
真空:よくより2 x 10-3 Pa;
真空の保護:マイクロスケールのインフレーション弁との20 Pa;
標本の動き:平らな回転、傾きの歳差運動。
A50.7011 イオン放出させるコーター ガラス処理の部屋:∮100mm;高い130mm;
標本の段階のサイズ:∮40mm (把握6標本のコップ);
金ターゲット サイズ:∮58mm*0.12mm (厚さ);
真空の検出:Piraniのゲージ;
真空の保護:マイクロスケールのインフレーション弁との20 Pa;
中型のガス:アルゴンのガスの特別な空気入口が付いているアルゴンかマイクロスケールで調整する空気およびガス。
A50.7012 アルゴン イオン放出させるコーター サンプルは高真空の下のカーボンそして金とめっきされた;
回転サンプル テーブル、均一コーティング、3-5nmについての粒度;
目標資料の選択無し、サンプルへの損傷無し;
薄くなるイオン クリーニングおよびイオンの機能は実現することができる。
A50.7013 屈曲点のドライヤー 内部の直径:82mmの内部の長さ:82mm;
圧力範囲:0-2000psi;
温度較差:0°-50° C (F) 32°-122°
A50.7014 電子ビームリソグラフィ 走査型電子顕微鏡に基づいて、新しいナノ露出システムは開発された;
      ModificatonはNanoscaleの線幅のイメージ作るためのすべてのSem機能を保った;
マイクロエレクトロニック装置、光電子工学装置、Quantun装置、マイクロエレクトロニクス システムR & Dに適用されるModificated EblシステムWidly。
 
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 17
A63.7069標準的な消耗品の用品類
1 タングステンのフィラメント 前集中させる、輸入される 1箱(5 PC)
2 サンプル コップ Dia.13mm 5 PC
3 サンプル コップ Dia.32mm 5 PC
4 カーボン両面の伝導性テープ 6mm 1個のパッケージ
5 真空のグリース   10 PC
6 毛のない布   1つの管
7 磨くのり   1 PC
8 サンプル箱   2つの袋
9 綿棒   1 PC
10 オイルの霧フィルター   1 PC
A63.7069標準的な用具及び部品は準備する
1 内部の六角形のスパナー 1.5mm~10mm 1セット
2 ピンセット 長さ100-120mm 1 PC
3 細長かったスクリュードライバー 2*50mm、2*125mm 2 PC
4 十字のスクリュードライバー 2*125mmm 1 PC
5 ダイヤフラムの除去剤   1 PC
6 クリーニングの棒   1 PC
7 フィラメントの調節用具   1 PC
8 ガスケットを調節するフィラメント   3 PC
9 管の抽出器   1 PC
光学顕微鏡の巨大なサンプル段階をスキャンする高リゾリューションのデジタル 18