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Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A62.4501 Scanning Microscope Curve Basic Level Atomic Force

OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力

  • ハイライト

    カーブベーシックレベル走査型顕微鏡、原子間力走査型顕微鏡、走査型オプトエデュ顕微鏡

    ,

    atomic force scanning microscope

    ,

    scanning opto edu microscope

  • 仕事モード
    「接触モード叩くモード【任意】摩擦モード段階モード磁気モード静電気モード」
  • 現在のスペクトルのカーブ
    「RMS-ZカーブF-Z力カーブ」
  • X-Yスキャン範囲
    20×20um
  • X-Yスキャン決断
    0.2Nm
  • Zスキャン範囲
    2.5um
  • Yスキャン決断
    0.05Nm
  • スキャン速度
    0.6Hz~30Hz
  • スキャン角度
    0~360°
  • サンプルの大きさ
    「Φ≤90mm H≤20mm」
  • Shock-Absorbing設計
    「箱」を保護するばね懸濁液金属
  • 光学Syestem
    「4x客観的な決断2.5um」
  • 出力
    USB2.0/3.0
  • ソフトウェア
    勝利XP/7/8/10
  • 起源の場所
    中国
  • ブランド名
    OPTO-EDU
  • 証明
    CE, Rohs
  • モデル番号
    A62.4501
  • 最小注文数量
    1pc
  • 価格
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • パッケージの詳細
    輸出交通機関のためのカートンのパッキング、
  • 受渡し時間
    5~20日
  • 支払条件
    L/C、T/T、ウェスタン・ユニオン
  • 供給の能力
    5000かPCS/月

OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力

基本レベルの原子間力顕微鏡

  • 基本レベル、個別のコントローラーと本体の設計、接触モード、タッピングモード、4倍の対物レンズ
  • 走査型プローブとサンプルステージが統合されており、干渉防止能力が高い
  • 2.精密レーザーおよびプローブ位置決め装置。プローブの交換とスポットの調整が簡単で便利です。
  • 4倍の対物レンズの光学的ポジショニング、焦点を合わせる必要がない、リアルタイムの観察とプローブサンプルスキャンエリアのポジショニング
  • スプリングサスペンション耐衝撃方式はシンプルで実用的であり、強力な干渉防止能力を備えています
  • OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力 0
  • OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力 1
  • ◆レーザー検出ヘッドとサンプルスキャンステージが統合されており、構造が非常に安定しており、干渉防止が強力です。

    ◆精密プローブ位置決め装置、レーザースポットアライメント調整は非常に簡単です

  • ◆単軸駆動サンプルは自動的にプローブに垂直に接近するため、針先はサンプルスキャンに対して垂直になります

    ◆モーター制御の加圧圧電セラミック自動検出のインテリジェントニードルフィード方式は、プローブとサンプルを保護します

  • ◆自動光学測位、焦点を合わせる必要がない、リアルタイムの観察とプローブサンプルスキャンエリアの測位

    ◆スプリングサスペンション耐衝撃方式、シンプルで実用的、優れた耐衝撃効果

    ◆金属シールド防音ボックス、高精度温湿度センサー内蔵、作業環境のリアルタイム監視

  • ◆統合スキャナー非線形補正ユーザーエディター、98%を超えるナノメートルの特性評価と測定精度

  • OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力 2

  • OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力 3

  • OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力 4

  • OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力 5

  • 仕様 A62.4500 A622.4501 A62.4503 A62.4505
    作業モード タッピングモード

    [オプション]
    接触モード
    摩擦モード
    フェーズモード
    磁気モード
    静電モード
    接触モード
    タッピングモード

    [オプション]
    摩擦モード
    フェーズモード
    磁気モード
    静電モード
    接触モード
    タッピングモード

    [オプション]
    摩擦モード
    フェーズモード
    磁気モード
    静電モード
    接触モード
    タッピングモード

    [オプション]
    摩擦モード
    フェーズモード
    磁気モード
    静電モード
    現在のスペクトル曲線 RMS-Z曲線

    [オプション]
    FZフォースカーブ
    RMS-Z曲線
    FZフォースカーブ
    RMS-Z曲線
    FZフォースカーブ
    RMS-Z曲線
    FZフォースカーブ
    XYスキャン範囲 20×20um 20×20um 50×50um 50×50um
    XYスキャン解像度 0.2nm 0.2nm 0.2nm 0.2nm
    Zスキャン範囲 2.5um 2.5um 5um 5um
    Yスキャン解像度 0.05nm 0.05nm 0.05nm 0.05nm
    スキャン速度 0.6Hz〜30Hz 0.6Hz〜30Hz 0.6Hz〜30Hz 0.6Hz〜30Hz
    スキャン角度 0〜360° 0〜360° 0〜360° 0〜360°
    サンプルサイズ Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    Φ≤90mm
    H≤20mm
    XYステージ移動 15×15mm 15×15mm 25×25um 25×25um
    衝撃吸収設計 スプリングサスペンション スプリングサスペンション
    金属シールドボックス
    スプリングサスペンション
    金属シールドボックス
    -
    光学システム 4倍の目的
    解像度2.5um
    4倍の目的
    解像度2.5um
    10倍の目的
    解像度1um
    接眼レンズ10倍
    インフィニティプランLWDAPO5x10x20x50x
    5.0Mデジタルカメラ
    10インチLCDモニター、測定付き
    LEDケーラー照明
    同軸粗およびファインフォーカシング
    出力 USB2.0 / 3.0 USB2.0 / 3.0 USB2.0 / 3.0 USB2.0 / 3.0
    ソフトウェア XP/7/8/10に勝つ XP/7/8/10に勝つ XP/7/8/10に勝つ XP/7/8/10に勝つ
  • 顕微鏡 光学顕微鏡 電子顕微鏡 走査型プローブ顕微鏡
    最大解像度(um) 0.18 0.00011 0.00008
    述べる 油浸1500x ダイヤモンド炭素原子のイメージング 高次のグラファイト炭素原子のイメージング
    OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力 6   OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力 7
  • プローブとサンプルの相互作用 信号の測定 情報
    静電力
    トンネル電流 現時点の 形状、導電率
    磁力 段階 磁気構造
    静電力 段階 電荷分布
  •   解像度 労働条件 作業温度 サンプルにダメージを与える 検査深度
    SPM 原子レベル0.1nm 通常、液体、真空 部屋または低温 なし 1〜2原子レベル
    TEM ポイント0.3〜0.5nm
    ラティス0.1〜0.2nm
    高真空 部屋の温度 小さな 通常<100nm
    SEM 6-10nm 高真空 部屋の温度 小さな 10mm @ 10x
    1um @ 10000x
    FIM 原子レベル0.1nm 超高真空 30〜80K ダメージ 原子の厚さ
  • OptoEduA62.4501走査型顕微鏡曲線基本レベル原子間力 8
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