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イメージ投射 モードBF/DF (明るいフィールド/暗いフィールド)
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STEM モード着陸電圧50KV
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検出器のタイプ半導体直接検出器
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電子銃スコットキー型熱場放出
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電子ビーム電流50pAから100nA
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サンプルステージX=±4mm、Y=±4mm、位置決め精度1um
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起源の場所中国
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ブランド名CNOEC, OPTO-EDU
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証明CE, Rohs
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モデル番号A63.7230
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文書
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最小注文数量1pc
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価格FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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パッケージの詳細輸出交通機関のためのカートンのパッキング、
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受渡し時間5~20 日
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支払条件T/Tの西連合、Paypal
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供給の能力5000 PC月
OPTO-EDU A63.7230 走査透過電子顕微鏡 STEM 50KV 800000x
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急速自動マイクロ粒子画像分析システム A63.7230は高速でインテリジェントで完全に自動化されたスキャントランスミッション電子顕微鏡 (STEM) で,50KVで完全な独立した知的財産権を持っています.ウイルス形状観察などの分野でのアプリケーションのニーズを満たすワクチン細胞バンクの安全性試験 ワクチン研究と製造 臨床病理組織切片研究 脳神経接続オミクスに関する生物学的研究 |
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A63.7230 基本技術 |
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ほら高解像度 高明るさの電子光学システム 50KVで超高速画像撮影 100M/s システムにはビデオレベル (25fps@2k*2k) のナノスケール解析能力があります高解像度を維持しながら,省略なしに完全に自動化された情報取得を可能にする. ほら高感度直射電子検出器 A63.7230の検出器はすべて,電子を直接電気信号に変換する独立設計の直接電子検出器を使用します.検出効率が80%以上,信号とノイズ比 (SNR) が高い. ほら広域 と 高解像度 の 画像 の 間 に 素早く 切り替える 革新的な電子光学設計により 大幅なフィールド画像と高解像度の画像が独立して動作し, 急速な切り替え,正確な粒子識別と位置付けが可能になります高解像度画像を. ほら高速で安定した機械運動プラットフォーム X=±4mm,Y=±4mm 振動のない運動プラットフォームを使用し,位置位置精度は1um. |
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| A63.7230 トランスミッションスキャン電子顕微鏡 (STEM) | |
| 決議 | 1.0nm@50kV |
| (最適条件下では1nAの光束電流) | |
| イメージングモード | BF/DF (明るいフィールド/暗いフィールド) |
| STEM モード着陸電圧 | 50KV |
| 検出器のタイプ | 半導体直接検出器 |
| 拡大 | 1X-500X (低増幅光学画像) |
| 500X - 800,000X (STEM画像) | |
| 電子銃 | スコットキー型熱場放出 |
| 電子ビーム電流 | 50pAから100nA |
| サンプルステージ | X=±4mm,Y=±4mm,位置位置位置精度は1mm |
| 画像流量 | 1x1mm2の領域を4nmピクセルで0.5時間以内に画像処理を完了できます |
| 超高速画像取得 | 100MB/s,単一の24k x 24k画像は,捕捉するのにわずか6.5秒かかります |
| 取得方法 | STEM 明るいフィールド (BF) またはダークフィールド (DF) の取得 |
| 高出力電子顕微鏡制御ソフトウェア | 自動画像最適化,インテリジェント焦点追跡,パノラマ光学ナビゲーション,広域全自動取得機能 |
| 広域 と 高解像度 の 画像 の 間 に 素早く 切り替える | 革新的な電子光学設計 大幅なフィールド画像と高解像度画像の独立操作 急速な切り替え 精密な粒子識別と位置付け高解像度の高速画像 |
| 画像解析処理ソフトウェア AIサーバー | 超大型フィールド画像,100um@25nm,AIサーバー高効率の認識と測定 |
| 高出力粒子定量検出能力 | 定量検知を保証する,全新サンプルロードシステムと自動化サンプル管理システム |
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▶完全に自動化された微粒子検出のために設計された光学システム
伝統的な伝送電子顕微鏡は視野が狭いため,大量のナノ粒子の検出と識別の必要性を満たすことはできません.7230は,半導体工業級の電子束検出装置の概念に基づいて設計されています.高出力ナノ粒子の検出能力を達成する.
A63.7230は高速画像技術,振動のないサンプルステージ,高速電子光学システム,AI技術などの革新的な設計により超高速画像を取得します従来の電子顕微鏡の10倍もの速度で. |
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▶完全 自動 設計 電源点検,ナビゲーション位置付け,ワンクリックセンター化,焦点調整,シフト修正などの一連の操作が自動化されています.リアルタイムのフォーカス追跡システムはハードウェアとソフトウェアで構成されています精密な電子屈曲を用いて,サンプル画像の正確な位置付けを達成し,結果の重複性が高くなります.標本位置を調整し位置付けする際の 膨大な努力の必要性をなくし,自動検出のために AI インテリジェンスも利用します最終的には,無所属の連続運転を実現します. |
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▶異なるクライアント向けにカスタマイズ可能なソフトウェア機能 実験スタッフの分析を支援するために 現代の人工知能や AI アルゴリズムを活用します電子顕微鏡による自動全切断画像撮影と縫合までAIのインテリジェント分析は,粒子の自動検出と分類に使用できます.ユーザーに完全なソリューションを提供. |
当社の製品は世界中で販売されています。当社の製品の全プロセスにご安心ください。