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Opto Edu A63.7016 Benchtop Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, SE+BSE+EDS, 100000x

オプトエドゥA63.7016 ベンチトップ ワルフタン繊維スキャン電子顕微鏡,SE+BSE+EDS,100000x

  • ハイライト

    ベンチトップ ウォルフスタン フィラメント SEM

    ,

    EDS100000x拡大電子顕微鏡付きスキャン電子顕微鏡

    ,

    100000x magnification electron microscope

  • 解決
    130eV
  • 加速電圧
    5kV、10kV、15kV
  • 3D可動試料ステージ
    X:±25mm Y:±25mm Z:30mm
  • 最大サイズのサンプル
    「90mm(直径) 40mm(厚さ)​​」
  • 電子銃
    プリセンタードカートリッジタングステンフィラメント
  • 映像信号
    後方散乱電子
  • 起源の場所
    中国
  • ブランド名
    CNOEC, OPTO-EDU
  • 証明
    CE, Rohs
  • モデル番号
    A63.7016
  • 文書
  • 最小注文数量
    1個
  • 価格
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • パッケージの詳細
    輸出交通機関のためのカートンのパッキング、
  • 受渡し時間
    5~20日
  • 支払条件
    T/T、ウェストユニオン、ペイパル
  • 供給の能力
    5000個/月

オプトエドゥA63.7016 ベンチトップ ワルフタン繊維スキャン電子顕微鏡,SE+BSE+EDS,100000x

Opto Edu A63.7016 ベンチトップ タングステン フィラメント走査型電子顕微鏡
SE+BSE+EDS、倍率100000倍
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高度な分析パフォーマンス
A63.7016 SuperSEM は、先進的な電子光学システムで SEM と EDS テクノロジーを組み合わせたリアルタイム EDS 元素分析で伝統を打ち破ります。優れた分析性能、リアルタイムのエネルギー分散型分光擬似カラーイメージング、およびユーザーフレンドリーな操作により、サンプルの表面構造と化学元素の両方を詳細に分析できます。
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A63.7016 SuperSEM の主な特長
  • X線スペクトルを常にリアルタイムで表示
  • リアルタイムエネルギー分散分光法 (EDS) 擬似カラーイメージング
  • 分析中に関心のある要素を強調表示する
技術概要
走査型電子顕微鏡は電子線を照明源とし、集束した微細な電子線をラスタースキャン方式で試料に照射します。これにより、サンプルの特性に関連するさまざまな情報が生成され、収集および処理されて顕微鏡形態の拡大画像が得られます。光学顕微鏡または透過顕微鏡と比較して、高解像度、深い被写界深度、および 3 次元イメージング機能を提供します。
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パフォーマンス上の利点
  • 高速スキャン速度:信号取得帯域幅は最大 10M。ビデオモードでは、ゴーストや尾引きのないリアルタイムのサンプル観察が可能で、細部を見逃すことはありません。
  • コンパクトなデザイン:構造的に効率的な装置なので、特別な機器室や追加の防振テーブルは必要ありません。標準主電源によるプラグアンドプレイで、限られた研究室スペースに適しています。
  • 高度な着色テクニック:SEM 画像のカラーリングによりサンプルの詳細が視覚的に強調表示され、特徴の認識が強化され、分析が容易になります。色の区別により材料の組成が明らかになり、研究成果が向上します。
  • リアルタイムのスペクトル比較:定量的な結果は収集を完了することなくリアルタイムで表示されるため、収集プロセス中に以前のスペクトルと比較することができます。
  • 視覚化されたエネルギースペクトル分析:点、線、面の解析範囲を自由に選択できます。優れた視覚化アルゴリズムにより、近いスペクトルのピークを正確に分離し、材料特性を研究するための元素の空間分布を表示します。
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技術仕様
仕様 A63.7016 A63.7016-X A63.7016-V A63.7016-L
解決 130eV 130eV 130eV 130eV
加速電圧 5kV、10kV、15kV 5kV、10kV、15kV 5kV、20kV、25kV、30kV 5kV、10kV、15kV、20kV、25kV、30kV
3D可動試料ステージ X:±25mm Y:±25mm Z:30mm X:±25mm Y:±25mm Z:30mm X:±25mm Y:±25mm Z:30mm X:±50mm Y:±50mm Z:60mm
最大サイズのサンプル 90mm(直径) 40mm(厚さ) 90mm(直径) 40mm(厚さ) 90mm(直径) 40mm(厚さ) 200mm(直径) 60mm(厚さ)
力を倍増する ×10 ~ ×100,000 (写真倍率) ×25 ~ ×250,000 (表示倍率)
電子銃 プリセンタードカートリッジタングステンフィラメント
検出器 BSE: 高感度 4 セグメント BSE 検出器 BSE: 高感度 4 セグメント BSE 検出器
SE: 二次電子検出器
EDS: リアルタイムエネルギースペクトル擬似カラーイメージング
EDSパラメータ / 検出器の種類: シリコンドリフト検出器
検出エリア: 30mm²
解像度: 130eV
元素分析範囲:B-Cf
映像信号 後方散乱電子 反射電子、自社開発リアルタイムエネルギースペクトル検出器、二次電子、Mix(反射電子+二次電子+リアルタイムエネルギースペクトル擬似カラーイメージング)
真空モード スタンダード、チャージアップ軽減
導体 BSE、スタンダード、チャージアップ削減
サイズ(幅×長さ×高さ) 292mm×570mm×515mm 292mm×570mm×515mm 292mm×570mm×515mm 292mm×570mm×515mm
重さ 55KG 56KG 57KG 66KG
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アプリケーション
A63.7016 SuperSEM は、高加速電圧、マルチアングル観察機能、および自動焦点合わせ、クイックスキャン、およびビデオモードでのサンプル元素分布のリアルタイム観察を可能にするサポートデータ解析ソフトウェアを備えています。金属、セラミック、電池、コーティング、セメント、ソフトマターなどの材料の正確かつ効率的な画像取得と分析を保証し、科学研究や産業試験のための強力なツールとなります。